Contacts
Armel Descamps-mandine , Laurent Weingarten
Présentation
Le JEM-2100F est un microscope électronique en transmission à émission de champ qui permet de travailler en plusieurs modes :
- TEM : microscopie conventionnelle, haute résolution et micro-diffraction
- CBD : faisceau convergent pour l’analyse structurale
- NBD : nano-diffraction (diffraction à l’échelle nanométrique)
- EDX : microanalyse par dispersion d’énergie des photons émis par l’échantillon sous l’effet de l’impact des électrons incidents
Caractéristiques Techniques
- Source à émission de champ
- Tension d’accélération : 200 kV
- Résolution : 2,3 Å
- Porte-objets simple tilt, double tilt, tilt rotation, cryo, tomo (+/- 70°)
- Etage STEM
- Acquisition numérique des images : camera CMOS Gatan RIO16IS 4K*4K
- Analyse EDX : Ultim Max TEM 80mm² Windowless (Oxford Instruments).
Date d’acquisition : 2005
Date de jouvence : 2021
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