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MET JEOL JEM 2100F - EDS

Contacts

Armel Descamps-Mandine , Laurent Weingarten

Présentation

Le JEM-2100F est un microscope électronique en transmission à émission de champ qui permet de travailler en plusieurs modes :

  • TEM : microscopie conventionnelle, haute résolution et micro-diffraction
  • CBD : faisceau convergent pour l’analyse structurale
  • NBD : nano-diffraction (diffraction à l’échelle nanométrique)
  • EDX : microanalyse par dispersion d’énergie des photons émis par l’échantillon sous l’effet de l’impact des électrons incidents

Caractéristiques Techniques

  • Source à émission de champ
  • Tension d’accélération : 200 kV
  • Résolution : 2,3 Å
  • Porte-objets simple tilt, double tilt, tilt rotation, cryo, tomo (+/- 70°)
  • Etage STEM
  • Acquisition numérique des images : camera CMOS Gatan RIO16IS 4K*4K
  • Analyse EDX : Ultim Max TEM 80mm² Windowless (Oxford Instruments).

Date d’acquisition : 2005
Date de jouvence : 2021

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