Centre Castaing
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Comité d’Orientation Stratégique (COS)
Comité opérationnel COPER
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Equipements
Microsondes Electroniques
Microsonde Electronique CAMECA SXFive FE
Microsonde Electronique CAMECA SXFive
Microscopes Electroniques à Balayages (MEB)
MEB/FIB FEI HELIOS 600i - EDS
MEB-FEG JEOL JSM 7800F Prime - EDS
MEB FEG JEOL JSM 7100F TTLS LV - EDS/EBSD
MEB FEG JEOL JSM 6700F - EDS
Microscopes Electroniques en Transmission (MET)
MET JEOL JEM-ARM200F Cold FEG corrigé sonde - EDS/EELS
MET JEOL JEM 2100F - EDS
MET JEOL JEM 1400 ORIUS
MET JEOL JEM 1011
MET JEOL JEM 1400 Rio - EDS
Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires (SIMS) - Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL - GD-OES)
SIMS CAMECA IMS 4FE6
GDOES : Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy
Matériels de préparation
Préparation des échantillons pour observation au MEB et techniques d’analyses associées (EBSD)
Polisseuse par vibrations BUEHLER VibroMet 2
Appareil de polissage électrolytique Struers Lectropol-5
Cross section polisher JEOL modèle IB-19510CP
Polisseuse ESCIL ESC 300GTL
Polisseuse Handy Lap HL-2
Mire certifiée
Préparation des échantillons pour observation au MET
Nettoyeur Plasma GATAN SOLARUS modèle 950
Amincisseur électrolytique Struers Tenupol-5
Polisseur ionique haute précision GATAN modèle PIPS 691
Station de pompage JEOL modèle JEC-4000DS
Station de pompage du 2100F Model 655
Scie à fil WELL 3032
Cuveuteuse GATAN Model 656 - 1
Etuve
Plaque Chauffante
Nettoyeur Plasma PICO
Plaque Chauffante WELLER WT1
Polisseuse Mecatech 250 SPC
Ultra microtome ultra cut E
Paque chaufante WELLER
Métalliseurs
Système de pulvérisation cathodique et évaporation Carbone Leica EM ACE600 I
Système d’évaporation Carbone Leica EM ACE600 II
Système de métallisation et décapage de haute résolution GATAN modèle PECS 682
Métalliseur Pt JEOL JFC-2300HR
Microscopes Optiques
Microscope inversé métallographique NIKON
Microscope droit pétrographique NIKON
Stéréomicroscope binoculaire NIKON
Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle microsondes
Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle FIB
Binoculaire ARM Vision SX45
Binoculaire 2100F Vision SX45
Binoculaire salle de préparation 3
Binoculaire 1400
Découpe d’échantillons
Tronçonneuse ESCIL Brillant 220
Micro-tronçonneuse de précision Isomet
Tronconneuse ESCIL Labcut 150
Logiciel de traitement de données
Logiciel de traitement de données - Accueil-EBSD (celui du milieu)
Logiciel de traitement de données - Accueil STEM/EDS (celui de droite)
Logiciel de traitement de données - Accueil-3D (celui de gauche)
Localisation
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Photothèque
Construction du bâtiment
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Déménagements
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Installation des nouveaux équipements
Installation des nouveaux équipements
Inaugurations
Mardi 25 février 2014 : opération portes ouvertes
Jeudi 2 octobre 2014 : Inauguration de l’Espace Clément Ader
Jeudi 2 octobre 2014 : Inauguration de l’Espace Clément Ader
Lundi 16 mars 2015 : inauguration du Centre Castaing
EBSD
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FIB
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MEB-FEG
MEB-FEG
MET
MET
MICROSONDES
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SIMS
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FORMATIONS
Seminaire EBSD
CLUB MEB 2017
Grille tarifaire
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Centre de MicroCaractérisation Raimond Castaing, UAR3623, ECA, 3 rue Caroline Aigle, 31400 Toulouse