Centre Castaing - UAR3623

La spectrométrie de masse des ions secondaires est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides.

Les domaines d’application sont divers :

• Micro-électronique : dopants dans les semi-conducteurs, dosage d’impuretés, etc….

• Matériaux : analyse de couches minces, de multicouches, analyse de répartition de phases en 2D et 3D ; corrosion, analyse des élements traces, diffusion. etc….

• Géologie : mesure isotopique et analyse de traces dans les minéraux. etc….

• Biologie : image de répartition d’éléments dans les cellules, évolution de médicaments dans les tissus. etc…

L’analyseur ionique CAMECA IMS 4FE6 a déménagé du département de Physique de l’INSA de Toulouse vers le centre de microcaractérisation R. Castaing.

To continue on our website and request a reservation for one of the microscopes, click HERE to return to the corresponding page on the French version of the website