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Le JSM-7100TTLS LV est un microscope électronique à balayage qui possède toutes les performances haute résolution d’un microscope à effet de champ (FEG) avec en plus, la possibilité d’observer des échantillons non conducteurs en pression contrôlée jusqu’à 300Pa. Outre sa très bonne résolution (1.2nm à 125kV) en imagerie, ce microscope est particulièrement adaptè à l’analyse chimique et cristallographique grâce à son fort courant de sonde (jusqu’à 600nA).Retour ligne automatique
Il est équipé d’un spectromètre EDS SDD couplé à un système EBSD HKL.
lors de l’inauguration le 16 mars 2015.
Credit : crédits photo : direction communication ups@alain Labat